Демидова Л.А. Электронно-микроскопические исследования энергонасыщенных материалов

Учебное пособие. — Москва: РХТУ им. Д.И. Менделеева, 2013. — 155 с.Кратко рассмотрены основные физические и физико-химические методы, используемые в настоящее время для изучения структуры композиционных полимерных материалов.
Детально представлен метод сканирующей электронной микроскопии (СЭМ) и рентгеновский электронно-зондовый микроанализ (РЭМ), Рассмотрена принципиальная схема сканирующего электронного микроскопа, оснащенного энергодисперсионным спектрометром, Показано, как формируется в микроскопе электронный пучок, какие сигналы возникают в зоне взаимодействия электронного зонда с образцом и как возникает изображение поверхности образца на экране. Представлены основы количественного рентгеноспектрального микроанализа. Отмечены погрешности, возникающие при проведении электронно-зондового микроанализа, преимущества и недостатки энергодисперсионных и воднодисперсионных спектрометров.
Приведены примеры изучения с помощью СЭМ и РЭМ структуры и состава исходных энергонасыщенных материалов (СЭМ) и их изменений в процессе термического разложения и горения. Представлена методика подготовки образцов (ЭМ) для этих исследований, учитывающая их высокую чувствительность к внешним воздействиям. Определены условия проведения эксперимента. Показано влияние структурных особенностей и состава пористых пироксилиновых композиций на их физико-механические и технологические характеристики, а также закономерности горения в области высоких давлений. На основании данных СЭМ и РЭМ установлено фундаментальное явление в катализе
горения баллиститных порохов.
Предназначено для аспирантов и студентов, обучающихся по специальности 240702 и 240701.