Зарегистрироваться
Восстановить пароль
FAQ по входу

Зандерна А. Методы анализа поверхностей

  • Файл формата rar
  • размером 26,05 МБ
  • содержит документ формата image
  • Добавлен пользователем , дата добавления неизвестна
  • Описание отредактировано
Зандерна А. Методы анализа поверхностей
М.: Мир, 1979. — 582 с.
Книга написана коллективом специалистов США и ФРГ и посвящена методам анализа поверхности твердого тела. Дается общая классификация этих методов и подробно излагаются такие методы, как спектрометрия рассеяния медленных ионов, рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, электронная оже-спектроскопия, вторично-ионная масс-спектрометрия и полевая масс-спектрометрия.
Предназначена для широкого круга научных работников — физиков и химиков, металловедов и материаловедов, инженеров н технологов, а также для преподавателей вузов и студентов соответствующих специальностей.
  • Чтобы скачать этот файл зарегистрируйтесь и/или войдите на сайт используя форму сверху.
  • Регистрация

Смотри также

Подробнее

Анищик В.М., Борисенко В.Е., Жданок С.А., Толочко Н.К., Федосюк В.М. Наноматериалы и Нанотехнологии

  • pdf
Мн.: БГУ, 2008. - 375 с. В монографии обобщены и систематизированы многочисленные фундаментальные и прикладные знания по разнообразным наноматериалам и нанотехнологиям, дана общая характеристика наноматериалов и нанотехнологий, рассмотрены основные методы исследования наноматериалов, описаны структура и свойства различных видов наноматериалов, области их применения, особенности...
  • 14,57 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Подробнее

Вудраф Д., Делчар Т. Современные методы исследования поверхности

  • djvu
М.: Мир, 1989. — 564 с. В книге излагаются физические основы более двадцати современных методов исследования поверхности (дифракция медленных электронов, ионная и электронная спектроскопия и т. д. ). Дается сравнение и сопоставление методов друг с другом в зависимости от исследуемой проблемы физики поверхности. Для студентов и аспирантов физических, химических и...
  • 5,52 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Подробнее

Горелик С. С, Скаков Ю.А., Расторгуев Л.Н. Рентгенографический и электронно-оптический анализ

  • djvu
Учеб. пособие для вузов. — 3-е изд. доп. и перераб. — М.: МИСиС, 1994. —328 с. В третьем издании (второе вышло в 1970 г. ) учебного пособия описаны экспериментальные и расчетные методики решения задач по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электронной микроскопии, анализу дефектов кристаллического строения, качественному и количественному фазовому анализу,...
  • 16,62 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Подробнее

Калин Б.А. (ред.) Физическое материаловедение. Том 3. Методы исследования структурно-фазового состояния материалов

  • pdf
Учебник для вузов. В 6 т. Том 3. — М.: МИФИ, 2008. — 808 с. Авторы: Н.В. Волков, В.И. Скрытный, В.П. Филиппов, В.Н. Яльцев. Распознано. Учебник «Физическое материаловедение» представляет собой 6-томное издание учебного материала по всем учебным дисциплинам базовой материаловедческой подготовки, проводимой на 5–8 семестрах обучения студентов по кафедре Физических проблем...
  • 30,46 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Подробнее

Оура К., Лифшиц В.Г., Саранин А.А., Зотов А.В., Катаяма М. Введение в физику поверхности

  • pdf
М.: Наука, 2006. — 490 с. Основы двумерной кристаллографии. Экспериментальные условия. Методы анализа поверхности: дифракция, электронная спектроскопия, зондирование ионами, микроскопия. Атомная структура чистых поверхностей. Атомная структура поверхностей с адсорбатами. Структурные дефекты поверхностей. Электронные свойства поверхностей. Элементарные процессы на поверхности:...
  • 17,19 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Подробнее

Фелдман Л., Майер Д. Основы анализа поверхности и тонких пленок

  • djvu
Пер. с англ. — М.: Мир, 1989. — 344 с.: ил. Монография, написанная известными американскими специалистами в области атомных столкновений в твердых телах, посвящена физическим основам и методам использования пучков ионов, электронов и рентгеновского излучения для анализа структуры и состава тонких пленок вещества. Эти методы играют важную роль в развитии современной атомной...
  • 2,56 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Наверх